El Grupo Innovalia organiza Metromeet, la Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional
Metromeet, la Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional, se llevará a cabo los próximos 24, 25 y 26 de febrero en Bilbao
Organizada por Innovalia, miembro del Parque Científico y Tecnológico de Bizkaia, la conferencia reunirá durante tres días a representantes internacionales de las empresas líderes del sector que enseñarán cómo mejorar la calidad del producto y la eficacia de producción. Igualmente mostrará las últimas tendencias en automoción y así como las ventajas que puede aportar la metrología a la empresa y su desarrollo en la Basque Industry 4.0.
El Palacio Euskalduna de Bilbao acogerá por décimo segunda vez durante el 24 y 25 de febrero, las dos primeras jornadas de Metromeet, donde informará acerca de las tecnologías y desarrollos más recientes, y los avances más destacados. Además, compartirán las últimas noticias acerca de los nuevos desarrollos digitales y ópticos, las posibilidades que surgen de la relación entre la metrología y la impresión 3D y examinaran las nuevas normas europeas e internacionales.
Pero esto no es todo. En esta nueva edición de Metromeet se dedicará una jornada exclusivamente al mundo de la automoción. Durante la mañana del viernes 26 de febrero, se trasladarán a una bodega de La Rioja para ofrecer una serie de sesiones destinadas a conocer las últimas tendencias en automoción de la mano de ACICAE, las necesidades formativas del sector y presentar soluciones metrológicas específicas en el área de chapa, plástico y componentes del motor.
Todo ello durante 3 días de un fantástico networking con profesionales del mundo metrológica y representantes de empresas internacionales como Renishaw, FARO, GE, FraunhoferIPT, LNE o Frost & Sullivan, entre muchas otras, así como de diferentes Universidades y otros centros de excelencia.
El programa ya está disponible en la web oficial de la conferencia http://www.metromeet.org/programa y ofrece importantes descuentos.
